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电磁屏蔽效能测试
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法兰同轴法屏蔽效能测试
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小同轴屏蔽效能测试装置
HDS-85
小同轴屏蔽效能测试装置HDS-85适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量。
微同轴屏蔽效能测试装置
HDS-18A
微同轴屏蔽效能测试装置HDS-18A适用于导电薄膜、薄型织物、金属薄板、含导电涂覆层或镀层的薄型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，目前暂无标准与之对应，微同轴屏蔽效能测试装置的测试原理同ASTM 4935-2010 规定的测试装置。
屏蔽效能测试装置
HEM-2108
EM-2108屏蔽效能测试装置配有参考标准试样、负载标准试样和动态范围试样。
法兰同轴屏蔽效能测试
HDS-15
法兰同轴屏蔽效能测试HDS-15是根据《电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》 GJB 6190-2008要求设计，法兰同轴屏蔽效能测试HDS-15可用来完成电磁屏蔽材料的屏蔽效能测试。
法兰同轴屏蔽效能测试仪
HDS-35
HDS-35法兰同轴屏蔽效能测试仪适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电橡胶、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，HDS-35法兰同轴屏蔽效能测试仪完全符合GB/T 25471-2010；GJB 6190-2008的标准测试要求。
法兰同轴屏蔽效能测试装置
HDS-15
HDS-15法兰同轴屏蔽效能测试装置适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，HDS-15法兰同轴屏蔽效能测试装置符合GJB 6190-2008标准的要求。
深圳市华瑞高电子技术有限公司
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